⑸由外部提供的低频触发信号同时连接三台仪器的外触发输入是为了产生的上下行TD-SCDMA格式信号能同步，在频谱仪上的显示扫描也能同步。这样才能准确地测出各个指标的时间误差。

    以Agilent公司的E4438C矢量信号源和E4440A频谱仪为例，这种方法的测试流程为：

    ⑴将TD-SCDMA信号发生器1和TD-SCDMA信号发生器2产生有上下行规定时延的测试模式1信号，触发方式设为外部触发，并将信号电平设置在直放站启动灵敏度电平以上。

    ⑵开启CW信号发生器1和CW信号发生器2，调整其输出电平低于TD-SCDMA 信号电平20dB。

    ⑶将直放站设置为正常工作模式下，直放站增益为最小。

    ⑷设置频谱仪扫宽为0Hz（Span=0）、RBW=3MHz、SweepTime=2ms、触发方式设为外触发输入。

    ⑸设置频谱仪的触发延时（TrigDelay=-750μs）,并减小扫描时间（SweepTime），即可放大GP值，然后再局部放大，分别精确读出功率切换开关的关闭滞后量、转换间隔、开启提前量及切换抖动，如图4所示。

图4 频谱分析仪上相关数据

    ⑹加大频谱仪扫描时间值，调节TD-SCDMA信号发生器产生模式1信号的时隙配置，即3:3、4:2、5:1，频谱仪测试并计算时隙调整偏差。

    ⑺开关TD-SCDMA信号源或GPS接收机，观察功放开关同步控制功能。

    ⑻对第二切换点时域切换特性测试，要根据上下行时隙配置比，计算增加频谱仪的触发延时值，即可显示第二切换点的时域图，第二切换点的保护时隙GP长度为16码片（占12.5μs），测试方法同上。

    测试不同类型的直放站，衰减器要根据上下行最大输出功率略作调整，以保证输出信噪比和上下行隔离度足够好。如干放或光纤站上行发射功率很小，在连接图（图3）中左侧的两个衰减器可去掉。输出功率衰减调节不当的后果：功率太大会烧毁仪表，太小会使信号矢量幅度误差（EVM）值变差（即信噪比变差）。

3.2 方法二

    另一种测试方法用一个TD-SCDMA信号源产生上下行所有时隙信号，由于上下行输出功率的不对称，一般发生上行时隙的功率要比下行时隙的信号功率小，由TD-SCDMA信号源EVENT1输出触发频谱仪EXT TRIGGER INPUT来进行，如图5所示。

图5 测试方法二的连接结构

3.3 两种方法的比较

    测试方法一的主要优点有：上下行输入功率可以分别灵活调节，在进行各项指标测试时比较方便，且不需考虑直放站的信号输入端的隔离，在测试过程中只需考虑直放站的信号输出端的隔离度。其缺点在于信号源较多，还需要外部触发源，提高了测试成本。如果缺少外部触发源，也可用TD-SCDMA信号源1的EVENT1输出触发TD-SCDMA信号源2和频谱仪，但需要补偿TD-SCDMA信号源2的启动时延（需要单独用频谱仪先校准，E4438C约4μs）。

    测试方法二的主要缺点有：在改变信号源功率时，上下行时隙功率会同时改变而不能单独控制，而且在测试过程中必须考虑直放站的信号输入端和信号输出端两个回路的隔离度，确保直放站在最大增益时不自激。其优点在于少用了两台测试信号源，而且不需考虑产生上下行时隙的同步问题，一定程度上降低了测试成本。